GJB 2502.3-2015 航天器热控涂层试验方法 第3部分：发射率测试

京都电子KEM产辐射计法发射率测试仪 D&S AERD运用于航天器热控涂层试验方法 - 发射率测试

范围
本部分规定了航天器热控涂层半球发射率和法向发射率测试的目的、范围和精度、原理、设备及要求、条件、试样、程序、数据处理和报告等要求。
本部分适用于航天器热控涂层发射率的测试。

半球发射率稳态量热计法(方法2011)
测试目的
测定航天器热控涂层被测试样和参比试样的半球发射率。

法向发射率法(方法2021)
测试目的
测定航天器热控涂层被测试样的法向发射率。

辐射计法(方法2031)
测试目的
测定航天器热控涂层被测试样的半球发射率。
测试范围和精度
半球发射率测试范围为0.03~0.95，测试精度为0.015。
测试原理
辐射计探测器的输出信号与被测试样的发射率成线性关系，通过比较辐射计配备的高、低发射率参比试样和被测试样输出信号的大小，直接得到被测试样的发射率。
测试设备及要求
辐射计探测器：重复性±0.01。
毫伏计：灵敏度0.01mV。
热沉：导热良好，表面高辐射。
参比试样：要求按 GJB 2502.1-2015 中4.3的规定。
测试条件
被测试样温度应与参比试样温度相同。
试验室温度为15°C~25°C，其他条件按 GJB 2502.1-2015 中4.1规定。
被测试样
表面应平整，导热良好，无污染。
尺寸应大于探测器直径，厚度一般不超过2mm。
曲率半径应满足仪器要求。
其他要求按 GJB 2502.1-2015 中4.3的规定。
测试程序
测试前准备
仪器预热约30min。
测试
将高、低发射率参比试样置于热沉上，探测器分别放到高、低发射率参比试样上，通过微调使议数仪表上显示的数值等于它们各自的发射率值，此步骤重复一遍。
将被测试样置于热沉上，把探测器放到被测试样表面上约90s，待读数稳定，该读数即为被测试样的发射率。此过程至少进行三次。
数据处理
以三次测试值的算术平均值作为被测试样的半球发射率。
测试报告
测试报告的要求按 GJB 2502.1-2015 中4.4.3的规定。

反射法-便携式(方法2041)
测试目的
测定航天器和零部件表面热控涂层的半球发射率。

【实验仪器制备，推荐使用】

产品介绍链接：

京都电子KEM 辐射计法发射率测试仪 D&S AERD