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GB/T 31469-2015 半导体材料切削液-水分质量分数的测定
来源:KEM China | 来源:Dick Chen | 发布时间: 2018-01-22 | 605 次浏览 | 分享到:
GB/T 31469-2015 半导体材料切削液-水分质量分数的测定


GB/T 31469-2015 半导体材料切削液

范围
本标准规定了半导体材料切削液的各项技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、储存及运输等要求。
本标准适用于半导体材料线切割加工采用的切削液。

技术要求
半导体材料切削液技术要求应符合表1规定。




试验方法
水分质量分数
按 GB/ T 11275 规定进行测量。
GB/T 11275-2007 表面活性剂 含水量的测定


京都电子KEM 容量法卡尔费休水分仪 MKV-710S
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